A71055. 芯片测试

有 n（2≤n≤20）块芯片，有好有坏，已知好芯片比坏芯片多。

每个芯片都能用来测试其他芯片。用好芯片测试其他芯片时，能正确给出被测试芯片是好还是坏。而用坏芯片测试其他芯片时，会随机给出好或是坏的测试结果（即此结果与被测试芯片实际的好坏无关）。

给出所有芯片的测试结果，问哪些芯片是好芯片。

输入数据第一行为一个整数 n，表示芯片个数。

第二行到第 n+1 行为 n \times n 的一张表，每行 n 个数据。

表中的每个数据为 0 或 1，在这 n 行中的第 i 行第 j 列（1≤i, j≤n）的数据表示用第 i 块芯片测试第 j 块芯片时得到的测试结果，1 表示好，0 表示坏，i=j 时一律为 1（并不表示该芯片对本身的测试结果，芯片不能对本身进行测试）。

按从小到大的顺序输出所有好芯片的编号。

【来源】

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